Sun continúa avanzando en el modelo RFID

Sun Microsystems ha unido su centro de pruebas RFID con su centro avanzado de productos (SunAdvanced Product Testing-APT), un laboratorio de pruebas ambientales ideado para cubrir la demanda de soluciones de sensores y RFID multi-fabricante en condiciones extremas o condiciones ambientales del mundo real, tales como exceso de calor y frío, vibraciones, humedad, descargas eléctricas, altitud y presión. La nueva instalación se llama Sun Advanced Product Testing Lab for RFID and Sensors (Laboratorio Avanzado de Prueba de Productos para Sensores y RFID).

De acuerdo con esto, Jim del Rossi, director del Centro RFID de Sun Microsystems, comenta que “nuestro anterior centro de pruebas RFID ha tenido un gran éxito a la hora de ayudar a los clientes a dar los primeros pasos para la implementación de completas soluciones RFID que son interoperables y cubren las normativas y estándares de la industria. Combinando nuestro centro de pruebas RFID con nuestro laboratorio de pruebas ambientales APT permitimos a nuestros clientes dar un paso más para realizar pruebas de resistencia industrial en condiciones del mundo real, con el objeto de verificar si las soluciones RFID pueden aguantar las extremas condiciones ambientales que se encuentran en sectores como el militar, marítimo, aeroespacial, sanitario u otros”.

El nuevo Laboratorio APT para Sensores y RFID de Sun será reubicado en el centro APT de Sun existente en Colorado, que cuenta con operaciones adicionales en el campus Louisville de Sun en Denver. El centro, que comenzará sus operaciones inmediatamente, es el primero en combinar pruebas de estrés ambiental con pruebas de compatibilidad de interoperabilidad y estándares.

“Hemos utilizado las completas instalaciones de pruebas de APT para los productos Coors desde 1991 y los servicios del centro de pruebas RFID de Sun desde 2004”, comenta Ray Toms, director de embalaje de Coors Brewing Company. “Estamos expectantes ante la integración de estas funciones de pruebas para la mejora de nuestras futuras pruebas”.